见微学堂 | 薛加民教授带您拓展AFM功能，测量微纳电子学器件的能带结构

本次报告将介绍薛加民老师课题组最近基于AFM所做的两个工作。通过对样品或针尖进行改造，将普通的AFM的功能加以扩展，使其可以测量微纳电子学器件的能带结构。依靠AFM纳米级别的稳定性，pA级别的电流精度，我们可以在室温下获得高质量的数据。

在报告中，我们还将介绍开发AFM丰富的扩展功能，包括外接设备，软件定义接口，模块化编程实现定制扫描模式等。这些扩展性帮助我们在近期的工作中实现了非标准化的测量。

课程详情

时间：2021年9月22日(周三)10:00-11:00北京时间题目：利用AFM探测器件的能带结构课程链接：点击阅读原文/扫描下方二维码报名，锁定直播间

主讲人介绍

薛加民 博士生导师

上海科技大学副教授

2006年于中国科技大学获得物理学士学位，2012年于美国亚利桑那大学获得物理学博士学位。2014年加入上海科技大学。从事低维材料及其器件的扫描隧道显微镜和输运研究。作为第一作者/通讯作者在Nature Materials，Physical Review Letters，ACS Nano，Review of Scientific Instruments等杂志发表论文近20篇，引用2000余次。近期利用Asylum AFM开发了新的实验方法用于测量二维材料器件的局域电子学性质。

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